最新的 Ultra Scan TM專利干涉儀

VERTEX 80及 VERTEX 80v均采用最新的真正準直的 UltraScan專利干涉儀，該干涉儀可實現(xiàn)極高的光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承及超高質(zhì)量的光學反射鏡保證了儀器達到最出色的靈敏度和穩(wěn)定性。80系列適用于各種極限條件下的研究工作，如：高分辨率測試、超快速掃描、步進掃描及UV擴展譜區(qū)的測量。布魯克公司獨特的數(shù)字化 DigiTect TM數(shù)據(jù)采集專利技術(shù)有效防止外部信號干擾，確保了極佳的信噪比。

臺式真空光譜儀

VERTEX 8Ov的全鑄鋁光學底座及全真空型光學臺設計使譜儀具備了更高的穩(wěn)定性。大氣中的水汽吸收在真空環(huán)境下被消除，靈敏度及穩(wěn)定性得到進一步提高。在遠紅外和太赫茲波段該特色尤為突出，并意義重大。結(jié)合最新的全自動分束器更換器(BMs-C)，用戶無需打斷真空、通過軟件控制便能實現(xiàn)譜區(qū)的切換和擴展。

最寬的譜區(qū)擴展

VERTEX 80-80v結(jié)合不同的光學器件使譜區(qū)可覆蓋太赫茲、遠紅外、中紅外、近紅外、可見

光直至紫外光區(qū)。預準直的光學器件和真正準直的 Ultra ScanTM專利干涉儀，讓擴展譜區(qū)和儀器維護變得更加簡單快捷。

最高的光譜分辨率

VERTEX 80-80V標配的光譜分辨率可達0.2cm-1(切趾函數(shù))，能滿足大多數(shù)常壓氣相和常溫下測量需求。針對低溫下的高端研究工作，如晶向研究、半導體材料或者低壓下的氣相分析

測量， VERTEX80系列可以提供優(yōu)于0.06cm-1的高分辨率，這是全球商業(yè)化臺式紅外光譜儀

迄今為止達到的最高分辨率。在可見光區(qū)譜圖的分辨能力已可超出300,000：1(見右圖)。

全真空光學臺設計

創(chuàng)新的光學設計成就了具有最高靈活性、穩(wěn)定性和擴展外接能力的高端研究級全真空紅外光

譜儀。其全真空的光學設計，使 VERTEX 80在中紅外、近紅外及遠紅外譜區(qū)具備最高的靈敏度，使用戶無需再擔心水蒸氣吸收會干擾或覆蓋譜圖中極弱的特征信號。該真空譜儀已被應用于納米科學領域，并成功獲取低至千分之一表面覆蓋率的單分子層薄膜的信息。

全自動分束器更換功能

全新推出的全自動分束器更換器(BMS-c)，實現(xiàn)了全軟件操控譜區(qū)擴展且無需打斷真空。該

更換器可同時容納多達4種不同類型的分束器。其獨一無二的功能使 VERTEX 80v真空譜儀占據(jù)行業(yè)領先地位，進一步降低了從太赫茲到紫外譜區(qū)擴展全程中分束器更換的難度。

最佳靈活性

VERTEX系列具備極佳靈活性，在行業(yè)同類儀器中居首位。主機周圍右側(cè)、前側(cè)及左側(cè)共有5個出光口，右側(cè)及后側(cè)共2個入光口。這個特色使得用戶可以同時連接多種附件。例如，儀器后側(cè)入光口聯(lián)接同步輻射光源，同時右側(cè)出光口聯(lián)接偏振調(diào)制組件(PMA 50)，右前側(cè)出光口聯(lián)接紅外光纖附件，左前側(cè)聯(lián)接輻射熱測量儀以及左側(cè)聯(lián)接 HYPERION系列的傅立葉紅外顯微鏡。其靈活性可見一斑。